技术领域 [0001]本申请涉及显示屏技术领域，尤其涉及一种显示屏和电子设备。 背景技术 [0002]显示屏的行扫描方式，通常采用阵列栅驱动(Gate on Array，GoA)设计。显示屏的显示屏幕控制模块接收处理器的控制指令，输出一组或多组时钟信号输入到显示面板的阵列栅驱动GoA电路，阵列栅驱动电路根据时钟信号产生行扫描信号到显示面板的显示单元，控制显示单元显示。 [0003]但是，在显示屏实际运行过程中，受外界环境的温度，或静电场等因素的影响，阵列栅驱动电路中各个GoA单元的TFT可能会产生异常，无法以常规驱动信号驱动TFT开启和关闭。并且，时钟信号也会受外界环境温度、静电场等因素的影响导致时序异常。阵列栅驱动电路中的TFT异常以及时钟信号的时序异常，均会导致阵列栅驱动电路中的多个GoA单元输出的扫描信号同时启动显示单元的多个栅线，造成显示屏显示串行，而形成显示花屏。 发明内容 [0004]本申请提供了一种显示屏和电子设备，目的在于实现对阵列栅驱动电路中的多个GoA单元输出的扫描信号同时启动显示单元的多个栅线，而造成显示屏显示串行形成显示花屏的检测。 [0005]为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案： [0006]第一方面，本申请提供了一种应用于电子设备的显示屏，该显示屏包括：显示单元、与显示单元连接的阵列栅驱动电路、以及与阵列栅驱动电路相连接的检测单元；其中：阵列栅驱动电路用于生成扫描信号，并以扫描信号驱动显示单元进行显示；检测单元用于检测阵列栅驱动电路的扫描信号，得到并输出反馈信号，反馈信号用于判断显示单元的多个栅线是否被同时驱动。 [0007]由上述内容可以看出：在显示屏的阵列栅驱动电路连接检测单元，由该检测单元检测阵列栅驱动电路的扫描信号，并输出反馈信号，由于该反馈信号用于判断显示单元多个栅线是否被同时驱动，因此，可以实现对多个栅线是否被同时驱动的检测，进一步防止显示串行引起的显示花屏。 [0008]在一个可能的实施方式中，检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个阵列栅驱动GoA单元相连。 [0009]在本实施方式中，由于阵列栅驱动电路中位于末端的GoA单元输出的扫描信号可以反应出阵列栅驱动电路中所有GoA单元的输出信号，因此，将检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个GoA单元相连，可以得出阵列栅驱动电路中的每两个GoA单元输出的扫描信号是否同时运行输出扫描信号。 [0010]在一个可能的实施方式中，检测单元包括：第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管，其中：第一晶体管的栅极用于接收第一电压，源极用于接收第二电压，漏极连接第二晶体管的源极，第一电压为阵列栅驱动电路中晶体管的开启电压，第二电压为阵列栅驱动电路中晶体管的关闭电压；第一晶体管的漏极和第二晶体管的源极的公共端，用于输出反馈信号；第二晶体管的栅极连接阵列栅驱动电路一个GoA单元，漏极连接第三晶体管的漏极；第三晶体管的栅极连接阵列栅驱动电路的另一个GoA单元，源极用于接收第一电压。 [0011]在本实施方式中，第二晶体管的栅极连接阵列栅驱动电路一个GoA单元，第三晶体管的栅极连接阵列栅驱动电路的另一个GoA单元，在两个GoA单元不同时输出扫描信号以驱动多个栅线时，第二晶体管和第三晶体管中只有一个晶体管导通，第一晶体管因第一电压大于第二电压也会导通，第一晶体管的漏极和第二晶体管的源极的公共端输出的反馈信号是第二电压。在两个GoA单元同时输出扫描信号以驱动多个栅线的时刻，第二晶体管和第三晶体管均导通，第一晶体管还处于导通状态，第一晶体管的漏极和第二晶体管的源极的公共端输出的反馈信号会由第二电压跳变成第一电压，如此可以通过反馈信号的电压值来实现对多个栅线是否被同时驱动的检测，进一步防止显示串行引起的显示花屏。 [0012]在一个可能的实施方式中，检测单元还被配置为与显示屏的显示屏幕控制模块连接，检测单元向显示屏幕控制模块发送反馈信号；显示屏幕控制模块用于根据反馈信号，确定识别结果，识别结果用于反映阵列栅驱动电路是否以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线。 [0013]在一个可能的实施方式中，显示屏幕控制模块用于根据反馈信号，确定识别结果，识别结果用于反映阵列栅驱动电路是否以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线，包括：显示屏幕控制模块识别反馈信号为第一电压，确定第一识别结果，第一识别结果用于反映阵列栅驱动电路没有以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线；第一电压为阵列栅驱动电路中晶体管的开启电压；显示屏幕控制模块识别反馈信号为第二电压，确定第二识别结果，第二识别结果用于反映阵列栅驱动电路以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线，第二电压为阵列栅驱动电路中晶体管的关闭电压。 [0014]在一个可能的实施方式中，显示屏幕控制模块还用于向电子设备的处理器发送识别结果。 [0015]在一个可能的实施方式中，检测单元还被配置为与电子设备的处理器连接，检测单元向处理器传输反馈信号；处理器用于根据反馈信号，确定识别结果，识别结果用于反映阵列栅驱动电路是否以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线。 [0016]在一个可能的实施方式中，处理器用于根据反馈信号，确定识别结果，识别结果用于反映阵列栅驱动电路是否以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线，包括：处理器识别反馈信号为第一电压，确定第一识别结果，第一识别结果用于反映阵列栅驱动电路没有以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线；第一电压为阵列栅驱动电路中晶体管的开启电压；处理器识别反馈信号为第二电压，确定第二识别结果，第二识别结果用于阵列栅驱动电路以扫描信号同时驱动显示单元多个栅线，第二电压为阵列栅驱动电路中晶体管的关闭电压。 [0017]在一个可能的实施方式中，第一晶体管的长宽比小于第二晶体管和第三晶体管。 [0018]在一个可能的实施方式中，第一晶体管的尺寸小于第二晶体管和第三晶体管。 [0019]在一个可能的实施方式中，第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管包括：N型薄膜晶体管TFT，或者P型薄膜晶体管TFT。 [0020]第二方面，本申请提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器、存储器以及如第一方面任意一项的显示屏；存储器与一个或多个处理器耦合，存储器用于存储计算机程序代码，计算机程序代码包括计算机指令。 附图说明 [0021]图1a为显示屏的结构示意图； [0022]图1b为显示屏内阵列栅驱动电路的运行过程的展示图； [0023]图1c为显示屏显示花屏的展示图； [0024]图2为本申请提供的电子设备的硬件结构图； [0025]图3a为本申请实施例一提供的显示屏的结构示意图； [0026]图3b为本申请实施例一提供的显示屏的另一结构示意图； [0027]图4a为本申请实施例一提供的检测单元运行过程的展示图； [0028]图4b为本申请实施例一提供的检测单元的反馈信号的展示图； [0029]图5a为本申请实施例一提供的检测单元运行过程的另一展示图； [0030]图5b为本申请实施例一提供的检测单元的反馈信号的另一展示图； [0031]图6a为本申请实施例二提供的显示屏的结构示意图； [0032]图6b为本申请实施例二提供的显示屏的另一结构示意图； [0033]图7a为本申请实施例二提供的检测单元运行过程的展示图； [0034]图7b为本申请实施例二提供的检测单元运行过程的另一展示图； [0035]图8为本申请实施例三提供的显示屏的结构示意图； [0036]图9a为本申请实施例三提供的检测单元运行过程的展示图； [0037]图9b为本申请实施例三提供的检测单元的反馈信号的展示图； [0038]图10a为本申请实施例三提供的检测单元运行过程的另一展示图； [0039]图10b为本申请实施例三提供的检测单元的反馈信号的另一展示图； [0040]图11为本申请实施例四提供的显示屏的结构示意图； [0041]图12a为本申请实施例四提供的检测单元运行过程的展示图； [0042]图12b为本申请实施例四提供的检测单元运行过程的另一展示图。 具体实施方式 [0043]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。以下实施例中所使用的术语只是为了描述特定实施例的目的，而并非旨在作为对本申请的限制。如在本申请的说明书和所附权利要求书中所使用的那样，单数表达形式“一个”、“一种”、“所述”、“上述”、“该”和“这一”旨在也包括例如“一个或多个”这种表达形式，除非其上下文中明确地有相反指示。还应当理解，在本申请实施例中，“一个或多个”是指一个、两个或两个以上；“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系；例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B的情况，其中A、B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。 [0044]在本说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。 [0045]本申请实施例涉及的多个，是指大于或等于两个。需要说明的是，在本申请实施例的描述中，“第一”、“第二”等词汇，仅用于区分描述的目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，也不能理解为指示或暗示顺序。 [0046]为了更清楚地阐明本申请技术方案，下面对本申请涉及的相关概念进行解释。 [0047]1)FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)，是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板。 [0048]2)COP(Chip On PI)，是直接将柔性材质的屏幕的一部分向后弯折，从而更进一步节缩小边框，实现接近“无边框”的视觉效果的封装工艺。 [0049]3)GoA(Gate on Array，阵列栅驱动)，也可称为GiP(Gate in Panel)，是利用薄膜晶体管液晶显示器Array制程将栅极行扫描驱动信号电路制作在阵列基板上，实现对栅极逐行扫描的驱动方式的一项技术。阵列栅驱动GoA电路具体用于根据时钟信号逐行输出行扫描信号。 [0050]4)TFT(thin film transistor，薄膜晶体管)。 [0051]显示屏的行扫描方式，通常采用GoA设计。参见图1a，显示屏的显示屏幕控制模块driver IC接收处理器的控制指令，输出一组或多组时钟信号输入到显示面板panel的GoA阵列，阵列栅驱动电路根据时钟信号产生行扫描信号到显示面板panel的显示单元，控制显示面板panel的显示单元显示。 [0052]具体的，在图1b展示的示例中，driver IC输出两路时钟信号到阵列栅驱动电路，阵列栅驱动电路包括n个GoA单元，n为大于3的正整数，每个GoA单元包含多个TFT，每个GoA单元对应显示单元的一行栅线，具体的每个GoA单元的输出端连接一行栅线，GoA单元产生的扫描信号作用于该栅线。 [0053]图1b展示的示例中，显示屏的运行过程可如下： [0054]在输入信号和时钟信号CLK2的作用下，GoA单元1产生扫描信号，并将该扫描信号提供于对应的栅线，控制该栅线启动。并且，GoA单元1还会将输出信号(可以理解成与扫描信号相同)提供于GoA单元2，GoA单元2在GoA单元1的输出信号和时钟信号CLK1的作用下，产生扫描信号并提供于对应栅线。以此类推，直至阵列栅驱动电路的GoA单元n产生扫描信号并提供于栅线。 [0055]但是，在显示屏实际运行过程中，受外界环境的温度，或静电场等因素的影响，阵列栅驱动电路中各个GoA单元的TFT可能会产生异常，无法以常规驱动信号驱动TFT开启和关闭。并且，driver IC输出的时钟信号也会受外界环境温度、静电场等因素的影响导致时序异常。阵列栅驱动电路中的TFT异常，以及driver IC输出的时钟信号的时序异常，均会导致阵列栅驱动电路中的多个GoA单元输出的扫描信号同时启动多个栅线。 [0056]参见图1b展示的示例中，GoA单元1输出的扫描信号如右侧的电平信号，包括两个高电平信号，如此，阵列栅驱动电路中的每个GoA单元均输出包括两个高电平信号的扫描信号。GoA单元输出的扫描信号为高电平时，GoA单元对应的栅线会被驱动启动。每个GoA单元输出两个高电平信号，会导致同一时刻，至少有两个栅线会被驱动启动，导致显示串行，造成显示屏无法正常显示，而形成显示花屏，如图1c所示的示例。 [0057]基于此，本申请提供了一种显示屏，应用于电子设备，该电子设备可以是手机，平板电脑，桌面型、膝上型、笔记本电脑，超级移动个人计算机(Ultra-mobile PersonalComputer，UMPC)，手持计算机，上网本，个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)，可穿戴电子设备和智能手表等设备。 [0058]以手机为例，电子设备的示例性结构可以如图2所示。电子设备200可以包括处理器210，外部存储器接口220，内部存储器221，显示屏230，天线1，天线2，移动通信模块240，以及无线通信模块250等。 [0059]可以理解的是，本申请实施例示意的结构并不构成对电子设备200的具体限定。在本申请另一些实施例中，电子设备200可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者拆分某些部件，或者不同的部件布置。图示的部件可以以硬件，软件或软件和硬件的组合实现。 [0060]本申请实施例示意的各模块间的接口连接关系，只是示意性说明，并不构成对电子设备200的结构限定。在本申请另一些实施例中，电子设备200也可以采用上述实施例中不同的接口连接方式，或多种接口连接方式的组合。 [0061]处理器210可以包括一个或多个处理单元，例如：处理器210可以包括应用处理器(application processor，AP)，调制解调处理器，图形处理器(graphics processingunit，GPU)，图像信号处理器(image signal processor，ISP)，控制器，存储器，视频编解码器，数字信号处理器(digital signal processor，DSP)，基带处理器，和/或神经网络处理器(neural-network processing unit，NPU)等。其中，不同的处理单元可以是独立的器件，也可以集成在一个或多个处理器中。其中，处理器可以是电子设备200的神经中枢和指挥中心。处理器可以根据指令操作码和时序信号，产生操作控制信号，完成取指令和执行指令的控制。 [0062]处理器210中还可以设置存储器，用于存储指令和数据。在一些实施例中，处理器210中的存储器为高速缓冲存储器。该存储器可以保存处理器210刚用过或循环使用的指令或数据。如果处理器210需要再次使用该指令或数据，可从存储器中直接调用。避免了重复存取，减少了处理器210的等待时间，因而提高了系统的效率。 [0063]内部存储器221可以用于存储计算机可执行程序代码，可执行程序代码包括指令。处理器210通过运行存储在内部存储器221的指令，从而执行电子设备200的各种功能应用以及数据处理。内部存储器221可以包括存储程序区和存储数据区。其中，存储程序区可存储操作系统，至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能，图像播放功能等)等。存储数据区可存储电子设备200使用过程中所创建的数据(比如音频数据，电话本等)等。此外，内部存储器221可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件，闪存器件，通用闪存存储器(universal flash storage，UFS)等。 [0064]电子设备202通过GPU，显示屏230，以及应用处理器等实现显示功能。GPU为图像处理的微处理器，连接显示屏230和应用处理器。GPU用于执行数学和几何计算，用于图形渲染。处理器210可包括一个或多个GPU，其执行程序指令以生成或改变显示信息。 [0065]显示屏230用于显示图像，视频等。 [0066]实施例一 [0067]本申请实施例提供的一种显示屏，可应用于前述的电子设备。 [0068]参见图3a，本实施例提供的显示屏230包括电路板FPC、采用COP封装的显示屏幕控制模块driver IC、以及显示面板panel。显示面板panel可以采用液晶显示屏(liquidcrystal display，LCD)，有机发光二极管(organic light-emitting diode，OLED)，有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体(active-matrix organic light emittingdiode的，AMOLED)，柔性发光二极管(flex light-emitting diode，FLED)，Miniled，MicroLed，Micro-oled，量子点发光二极管(quantum dot light emitting diodes，QLED)等。 [0069]在一些实施例中，电子设备可以包括1个或N个显示屏230，N为大于1的正整数。 [0070]显示面板panel包括：显示单元、阵列栅驱动电路以及检测单元，阵列栅驱动电路用于生成扫描信号，并以扫描信号驱动显示单元显示。检测单元用于检测阵列栅驱动电路是否输出扫描信号同时启动多个栅线，并根据检测结果得到反馈信号。检测单元得到的反馈信号提供于driver IC，driver IC可根据检测单元传输的反馈信号，判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。 [0071]参见图3b，阵列栅驱动电路包括多个GoA单元，每个GoA单元包含多个相互连接的薄膜晶体管TFT，每个GoA单元对应显示单元的一行栅线，产生的扫描信号作用于对应的栅线。一些实施例中，每个GoA单元包含的薄膜晶体管TFT为N型薄膜晶体管TFT。 [0072]检测单元包括：相互连接的三个N型薄膜晶体管TFT。 [0073]一些实施例中，薄膜晶体管T1的栅极G连接driver IC的第一端口，第一端口用于输出VGH电压；薄膜晶体管T1的源极S连接driver IC的第二端口，第二端口用于输出VGL电压；薄膜晶体管T1的漏极D连接薄膜晶体管T2的源极S。薄膜晶体管T1的漏极D和薄膜晶体管T2的源极S的连接点，作为检测单元的输出端口，用于输出反馈信号。薄膜晶体管T2的栅极G连接GoA单元n，接收GoA单元n输出的扫描信号；薄膜晶体管T2的漏极D连接薄膜晶体管T3的漏极D。薄膜晶体管T3的栅极G连接GoA单元n-1，接收GoA单元n-1输出的扫描信号，薄膜晶体管T3的源极S连接driver IC的第一端口，接收第一端口传输的VGH电压。 [0074]需要说明的是，VGH电压的作用：driver IC提供用于开启阵列栅驱动电路中TFT的电压。VGL电压是driver IC提供用于关闭阵列栅驱动电路中TFT的电压。 [0075]在常规情况下，阵列栅驱动电路的GoA单元不会同时运行而同时输出扫描信号。如此，在图4a展示的示例中，GoA单元n-1输出扫描信号，GoA单元n不输出扫描信号。在本示例中，GoA单元n-1输出扫描信号，薄膜晶体管T3导通；GoA单元n不输出扫描信号，薄膜晶体管T2截止。通常情况下，VGH电压大于VGL电压，薄膜晶体管T1导通，如此，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB为VGL电压，如图4b所示。 [0076]若阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行，如图5a展示的示例中，GoA单元n-1和GoA单元n在一段时间内，同时运行输出扫描信号。GoA单元n-1和GoA单元n均输出扫描信号，薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3均导通。 [0077]还需要说明的是，薄膜晶体管T1驱动能力较弱，驱动能力要弱于薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3，因此，VGH电压大于VGL电压，薄膜晶体管T1导通，但由于薄膜晶体管T1的驱动能力弱于薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB，在阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行的时刻开始，由VGL电压跳变为VGH电压，如图5b所示。 [0078]一些实施例中，薄膜晶体管T1通过设置较小的长宽比和较小的尺寸使得其驱动能力较弱；薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3的驱动能力设置比薄膜晶体管T1大，可通过尺寸设计比薄膜晶体管T1大，长宽比薄膜晶体管T1大等实现。 [0079]在本实施例中，driver IC接收检测单元传输的反馈信号，可根据反馈信号判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。具体的，若driver IC接收的反馈信号为VGL电压，则确定阵列栅驱动电路不存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。若driver IC接收的反馈信号为VGH电压，则确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。并且，driver IC还可以根据反馈信号由VGL电压跳变到VGH电压的时刻，确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的开始时刻。 [0080]在一些实施例中，driver IC确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题，可控制重新启动，或反馈到处理器，由处理器执行动作来解决该问题。 [0081]由图3b展示的实施例可以看出：检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个GoA单元相连。一些实施例中，检测单元的设置位置，也可对应阵列栅驱动电路中末端的两个GoA单元的位置。 [0082]其中，检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个GoA单元相连的原因如下： [0083]如前述内容，从阵列栅驱动电路的第一个GoA单元(也称为GoA单元1)开始，前一个GoA单元产生的输出信号，会提供于后一个GoA单元，由后一个GoA单元根据前一个GoA单元产生的输出信号和时钟信号产生自身的扫描信号，如此，前一个GoA单元的输出信号作用于后一个GoA单元的扫描信号，即后一个GoA单元的扫描信号能够反映前一个GoA单元的输出信号。 [0084]如此反复，阵列栅驱动电路中位于末端的GoA单元输出的扫描信号可以反应出阵列栅驱动电路中所有GoA单元的输出信号，即GoA单元n能够反映GoA单元n-1到GoA单元1的扫描信号。因此，将检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个GoA单元相连，可以得出阵列栅驱动电路中的每两个GoA单元输出的扫描信号是否同时运行输出扫描信号。 [0085]还需要说明的是，显示面板panel也可以包括多个检测单元。多个检测单元中的一个检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个GoA单元相连，其他检测单元与阵列栅驱动电路的其他任意两个GoA单元。当然，每一个检测单元均如图3b所示，包括相互连接的三个N型薄膜晶体管TFT。 [0086]实施例二 [0087]本申请另一实施例还提供了一种显示屏，也可应用于前述的电子设备。 [0088]参见图6a，本实施例提供的显示屏230也包括电路板FPC、采用COP封装的显示屏幕控制模块driver IC、以及显示面板panel。显示面板panel可以采用液晶显示屏(liquidcrystal display，LCD)，有机发光二极管(organic light-emitting diode，OLED)，有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体(active-matrix organic light emittingdiode的，AMOLED)，柔性发光二极管(flex light-emitting diode，FLED)，Miniled，MicroLed，Micro-oled，量子点发光二极管(quantum dot light emitting diodes，QLED)等。 [0089]在一些实施例中，电子设备也可以包括1个或N个显示屏230，N为大于1的正整数。 [0090]本实施例中，显示面板panel包括：显示单元、阵列栅驱动电路以及检测单元，显示单元、阵列栅驱动电路的结构和功能与实施例一相同。本实施例中，检测单元与处理器相连，检测单元得到的反馈信号提供于处理器，处理器可根据检测单元传输的反馈信号，判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。 [0091]参见图6b，检测单元包括：相互连接的三个N型薄膜晶体管TFT。 [0092]一些实施例中，薄膜晶体管T1的栅极G连接driver IC的第一端口，第一端口用于输出VGH电压；薄膜晶体管T1的源极S连接driver IC的第二端口，第二端口用于输出VGL电压；薄膜晶体管T1的漏极D连接薄膜晶体管T2的源极S。薄膜晶体管T1的漏极D和薄膜晶体管T2的源极S的连接点，作为检测单元的输出端口与处理器相连，用于向处理器传输反馈信号。薄膜晶体管T2的栅极G连接GoA单元n，接收GoA单元n输出的扫描信号；薄膜晶体管T2的漏极D连接薄膜晶体管T3的漏极D。薄膜晶体管T3的栅极G连接GoA单元n-1，接收GoA单元n-1输出的扫描信号，薄膜晶体管T3的源极S连接driver IC的第一端口，接收第一端口传输的VGH电压。 [0093]需要说明的是，VGH电压和VGL电压作用与实施例一相同。 [0094]与实施例一相同，在常规情况下，如图7a展示的示例，GoA单元n-1输出扫描信号，GoA单元n不输出扫描信号。GoA单元n-1输出扫描信号，薄膜晶体管T3导通；GoA单元n不输出扫描信号，薄膜晶体管T2截止。薄膜晶体管T1导通，如此，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB为VGL电压。 [0095]若阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行，如图7b展示的示例中，GoA单元n-1和GoA单元n在一段时间内，同时运行输出扫描信号。GoA单元n-1和GoA单元n均输出扫描信号，薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3均导通。 [0096]同样，薄膜晶体管T1驱动能力要弱于薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3，因此，即便薄膜晶体管T1导通，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB，也在阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行的时刻开始，由VGL电压跳变为VGH电压。 [0097]一些实施例中，薄膜晶体管T1通过设置较小的长宽比和较小的尺寸使得其驱动能力较弱；薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3的驱动能力设置比薄膜晶体管T1大，可通过尺寸设计比薄膜晶体管T1大，长宽比薄膜晶体管T1大等实现。 [0098]在本实施例中，处理器接收检测单元传输的反馈信号，可根据反馈信号判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。具体的，若处理器接收的反馈信号为VGL电压，则确定阵列栅驱动电路不存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。若处理器接收的反馈信号为VGH电压，则确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。并且，处理器还可以根据反馈信号由VGL电压跳变到VGH电压的时刻，确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的开始时刻。 [0099]在一些实施例中处理器确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题，可控制重新启动，执行其他动作来解决该问题。 [0100]还需要说明的是，本申请实施例一和实施例二中，检测单元中的TI、T2以及T3是以N型薄膜晶体管为例进行说明。但本申请实施例提供的显示屏中，检测单元的TI、T2以及T3均不限制于N型薄膜晶体管。一些实施例中，检测单元的TI、T2以及T3可采用MOS管、开关三极管等其他同属性的晶体管。 [0101]实施例三 [0102]前述两个实施例提供的显示屏中，检测单元中的TI、T2以及T3是N型薄膜晶体管。检测单元中的TI、T2以及T3也可以采用P型薄膜晶体管。 [0103]基于此，本实施例提供的显示屏中，如图8所示，显示面板panel包括：显示单元、阵列栅驱动电路以及检测单元，阵列栅驱动电路用于生成扫描信号，并以扫描信号驱动显示单元显示。检测单元用于检测阵列栅驱动电路是否输出扫描信号同时启动多个栅线，并根据检测结果得到反馈信号。检测单元得到的反馈信号提供于driver IC，driver IC可根据检测单元传输的反馈信号，判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。 [0104]阵列栅驱动电路包括多个GoA单元，每个GoA单元包含多个相互连接的薄膜晶体管TFT，每个GoA单元对应显示单元的一行栅线，产生的扫描信号作用于对应的栅线。一些实施例中，每个GoA单元包含的薄膜晶体管TFT为P型薄膜晶体管TFT。 [0105]检测单元包括：相互连接的三个P型薄膜晶体管TFT。 [0106]一些实施例中，薄膜晶体管T1的栅极G连接driver IC的第一端口，第一端口用于输出VGL电压；薄膜晶体管T1的源极S连接driver IC的第二端口，第二端口用于输出VGH电压；薄膜晶体管T1的漏极D连接薄膜晶体管T2的源极S。薄膜晶体管T1的漏极D和薄膜晶体管T2的源极S的连接点，作为检测单元的输出端口，用于输出反馈信号。薄膜晶体管T2的栅极G连接GoA单元n，接收GoA单元n输出的扫描信号；薄膜晶体管T2的漏极D连接薄膜晶体管T3的漏极D。薄膜晶体管T3的栅极G连接GoA单元n-1，接收GoA单元n-1输出的扫描信号，薄膜晶体管T3的源极S连接driver IC的第一端口，接收第一端口传输的VGL电压。 [0107]需要说明的是，VGH电压是driver IC提供用于关闭阵列栅驱动电路中TFT的电压。VGL电压是driver IC提供用于开启阵列栅驱动电路中TFT的电压。 [0108]与实施例一相同，阵列栅驱动电路的GoA单元不会同时运行而同时输出扫描信号。因此，图9a展示的示例中，GoA单元n-1输出扫描信号，GoA单元n不输出扫描信号。在本示例中，GoA单元n-1输出扫描信号，薄膜晶体管T3导通；GoA单元n不输出扫描信号，薄膜晶体管T2截止。通常情况下，VGH电压大于VGL电压，薄膜晶体管T1的栅源极电压小于薄膜晶体管T1的开启电压，薄膜晶体管T1导通，如此，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB为VGH电压，如图9b所示。 [0109]若阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行，如图10a展示的示例中，GoA单元n-1和GoA单元n在一段时间内，同时运行输出扫描信号。GoA单元n-1和GoA单元n均输出扫描信号，薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3均导通。并且，由于薄膜晶体管T1的驱动能力要弱于薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3，因此，VGH电压大于VGL电压，薄膜晶体管T1导通，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB，在阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行的时刻开始，由VGH电压跳变为VGL电压，如图10b所示。 [0110]一些实施例中，薄膜晶体管T1通过设置较小的长宽比和较小的尺寸使得其驱动能力较弱；薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3的驱动能力设置比薄膜晶体管T1大，可通过尺寸设计比薄膜晶体管T1大，长宽比薄膜晶体管T1大等实现。 [0111]在本实施例中，driver IC接收检测单元传输的反馈信号，可根据反馈信号判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。具体的，若driver IC接收的反馈信号为VGH电压，则确定阵列栅驱动电路不存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。若driver IC接收的反馈信号为VGL电压，则确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。并且，driver IC还可以根据反馈信号由VGH电压跳变到VGL电压的时刻，确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的开始时刻。 [0112]在一些实施例中，driver IC确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题，可控制重新启动，或反馈到处理器，由处理器执行动作来解决该问题。 [0113]与实施例一相同，检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个GoA单元相连。当然，显示面板panel也可以包括多个检测单元。多个检测单元中的一个检测单元与阵列栅驱动电路中位于末端的两个GoA单元相连，其他检测单元与阵列栅驱动电路的其他任意两个GoA单元。 [0114]实施例四 [0115]本申请实施例提供的应用于前述电子设备的显示屏，与实施例三相同，包括：电路板FPC、采用COP封装的显示屏幕控制模块driver IC、以及显示面板panel。 [0116]在显示面板panel中，检测单元与处理器相连，检测单元得到的反馈信号提供于处理器，处理器可根据检测单元传输的反馈信号，判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。 [0117]具体的，参见图11，检测单元包括：相互连接的三个P型薄膜晶体管TFT。一些实施例中，薄膜晶体管T1的栅极G连接driver IC的第一端口，第一端口用于输出VGL电压；薄膜晶体管T1的源极S连接driver IC的第二端口，第二端口用于输出VGH电压；薄膜晶体管T1的漏极D连接薄膜晶体管T2的源极S。薄膜晶体管T1的漏极D和薄膜晶体管T2的源极S的连接点，作为检测单元的输出端口，用于向处理器输出反馈信号。薄膜晶体管T2的栅极G连接GoA单元n，接收GoA单元n输出的扫描信号；薄膜晶体管T2的漏极D连接薄膜晶体管T3的漏极D。薄膜晶体管T3的栅极G连接GoA单元n-1，接收GoA单元n-1输出的扫描信号，薄膜晶体管T3的源极S连接driver IC的第一端口，接收第一端口传输的VGL电压。 [0118]需要说明的是，VGH电压和VGL电压作用与实施例三相同。 [0119]与实施例三相同，阵列栅驱动电路的GoA单元不会同时运行而同时输出扫描信号。因此，图12a展示的示例中，GoA单元n-1输出扫描信号，GoA单元n不输出扫描信号。在本示例中，GoA单元n-1输出扫描信号，薄膜晶体管T3导通；GoA单元n不输出扫描信号，薄膜晶体管T2截止。通常情况下，VGH电压大于VGL电压，薄膜晶体管T1的栅源极电压小于薄膜晶体管T1的开启电压，薄膜晶体管T1导通，如此，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB为VGH电压。 [0120]若阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行，如图12b展示的示例中，GoA单元n-1和GoA单元n在一段时间内，同时运行输出扫描信号。GoA单元n-1和GoA单元n均输出扫描信号，薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3均导通。并且，由于薄膜晶体管T1的驱动能力要弱于薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3，因此，VGH电压大于VGL电压，薄膜晶体管T1导通，检测单元的输出端口输出的反馈信号FB，在阵列栅驱动电路的两个GoA单元同时运行的时刻开始，由VGH电压跳变为VGL电压。 [0121]一些实施例中，薄膜晶体管T1通过设置较小的长宽比和较小的尺寸使得其驱动能力较弱；薄膜晶体管T2和薄膜晶体管T3的驱动能力设置比薄膜晶体管T1大，可通过尺寸设计比薄膜晶体管T1大，长宽比薄膜晶体管T1大等实现。 [0122]在本实施例中，处理器接收检测单元传输的反馈信号，可根据反馈信号判断阵列栅驱动电路是否存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。具体的，若处理器接收的反馈信号为VGH电压，则确定阵列栅驱动电路不存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。若处理器接收的反馈信号为VGL电压，则确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题。并且，处理器还可以根据反馈信号由VGH电压跳变到VGL电压的时刻，确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的开始时刻。 [0123]在一些实施例中，处理器确定阵列栅驱动电路存在输出扫描信号同时启动多个栅线的问题，可控制重新启动或执行其他动作来解决该问题。 [0124]还需要说明的是，本申请实施例三和实施例四中，检测单元中的TI、T2以及T3是以P型薄膜晶体管为例进行说明。但本申请实施例提供的显示屏中，检测单元的TI、T2以及T3均不限制于P型薄膜晶体管。一些实施例中，检测单元的TI、T2以及T3可采用MOS管、开关三极管等其他同属性的晶体管。