CN109148508B 有效 存储器件及其制造方法
本发明提供了一种存储器件及其制造方法。一种存储器件包括:第一导线;第二导线,所述第二导线沿与所述第一导线相交的方向延伸,使得所述第一导线和所述第二导线在所述第一导线和所述第二导线之间的交叉点处竖直地交叠;以及,存储单元柱,所述存储单元柱位于所述交叉点处。所述存储单元柱可以包括加热电极层和接触所述加热电极层的电阻式存储层。所述电阻式存储层可以包括:楔形存储部和体存储部,所述楔形存储部的宽度随着与所述加热电极层的距离的增加而成比例地连续增加,所述体存储部连接到所述楔形存储部,使得所述体存储部和所述楔形存储部构成单个连续的层,所述体存储部的宽度大于所述楔形存储部的最大宽度。
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专利时间轴
  • 14 Feb 2018 申请日
    CN/201810152082.X
    优先权
  • 14 Feb 2018 申请日
    CN/109148508
    当前专利 申请号
  • 07 Apr 2023 公开(公告)日期
    CN109148508B
    申请号
  • 07 Apr 2023 公开(公告)日期
    授权日
    CN109148508B
    当前专利 申请号
专利类型/受理局 PATENT( CN)
[标]当前申请(专利权)人 三星电子株式会社
当前申请(专利权)人 三星电子株式会社

韩国京畿道

[标]原始申请(专利权)人 三星电子株式会社
原始申请(专利权)人 三星电子株式会社

韩国京畿道

IPC分类号
IPC(8): H10B63/00H10N70/20H10B61/00G11C11/16G11C13/00 +5
技术主题分类
应用领域分类
发明人

宋苏智

金成元

朴日穆

朴钟撤

郑智贤

代理机构

北京市立方律师事务所 (李娜)

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